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14
2014-1
由于DC耐壓測(cè)試的確給被測(cè)物（DUT）充電，為了消除在耐壓測(cè)試后處置被測(cè)物（DUT）之操作員觸電的危險(xiǎn)，在測(cè)試后就必須給該被測(cè)物（DUT）放電。DC測(cè)試會(huì)對(duì)電容充電。如果DUT實(shí)際上用交流電源的話，DC法就沒有模擬實(shí)際情...
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14
2014-1
在測(cè)試容性負(fù)載時(shí)，總電流由電抗性電流和泄漏電流組成。當(dāng)電抗性電流量遠(yuǎn)大于真實(shí)泄漏電流時(shí)，可能難于測(cè)出有過量泄漏電流的產(chǎn)品。在測(cè)試大容性負(fù)載時(shí)，所需要的總電流遠(yuǎn)大于泄漏電流本身。由于操作員面對(duì)更大的電流，這可能是一個(gè)更大的...
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13
2014-1
大家都知道在示波器的通道設(shè)置里面有耦合方式一項(xiàng)，而忽略了觸發(fā)設(shè)置里面的耦合方式選擇。事實(shí)上合理選擇耦合觸發(fā)方式可以極大方便我們測(cè)試。A.使用交、直流耦合方式時(shí)，觸發(fā)耦合和通道耦合要設(shè)置一致；B.當(dāng)信號(hào)中包含高頻干擾或者噪...
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13
2014-1
將示波器觸發(fā)模式設(shè)置成Normal，觸發(fā)條件設(shè)置成邊沿觸發(fā)，并將觸發(fā)電平調(diào)到適當(dāng)值，然后將掃描方式設(shè)置成單次方式。如果這種方式還不行，那就可能是儀器出了問題。
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13
2014-1
針對(duì)不同類型的示波器，示波器不同的捕獲方式，觸發(fā)和波形采集的關(guān)系不同。如果是采樣示波器或?qū)崟r(shí)示波器的等價(jià)時(shí)間采樣模式，一個(gè)波形的采集需要多次觸發(fā)完成的。針對(duì)實(shí)時(shí)示波器的實(shí)時(shí)采樣模式，觸發(fā)一次，波形肯定會(huì)采集一次，不觸發(fā)，...
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13
2014-1
取決于被測(cè)對(duì)象，在帶寬滿足的前提下，希望zui小采樣間隔(采樣率的倒數(shù))能夠捕捉到您需要的信號(hào)細(xì)節(jié)。業(yè)界有些關(guān)于采樣速率經(jīng)驗(yàn)公式，但基本上都是針對(duì)示波器帶寬得出的，實(shí)際應(yīng)用中，不用示波器測(cè)相同頻率的信號(hào)。若您在選型，對(duì)正...
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13
2014-1
毛刺/脈寬觸發(fā)一般有兩種典型應(yīng)用場(chǎng)合，一是同步電路行為，如利用它來(lái)同步串行信號(hào)，或?qū)τ诟蓴_非常嚴(yán)重的應(yīng)用，無(wú)法用邊沿觸發(fā)正確同步信號(hào)，脈寬觸發(fā)就是一個(gè)選擇；另一是用來(lái)發(fā)現(xiàn)信號(hào)中的異常現(xiàn)象，如因干擾或競(jìng)爭(zhēng)引起的窄毛刺，由于...
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13
2014-1
①、連接示波器探頭于通道A1（或A2）與被測(cè)點(diǎn)之間。②、設(shè)定觸發(fā)源（TriggerSource）為A1或A2（必須與實(shí)際被測(cè)信號(hào)輸入的通道一致）。③、點(diǎn)擊A1或A2按鈕，選定耦合方式為AC（交流）耦合。④、調(diào)節(jié)采樣速率及...
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13
2014-1
直觀講，觸發(fā)電平是使示波器進(jìn)行掃描的信號(hào)，一般示波器打開都處于自動(dòng)觸發(fā)，像測(cè)連續(xù)的重復(fù)信號(hào)時(shí)，比較方便。但測(cè)一些特定位置的數(shù)據(jù)，就需要觸發(fā)了。觸發(fā)電平格式又分為上升沿、下降沿、還有一些其它信號(hào)，比如I2C串口數(shù)據(jù)，進(jìn)行觸...
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10
2014-1
頻譜分析儀是當(dāng)前頻譜分析的主要工具，尤其是掃頻外差式頻譜分析儀是當(dāng)今頻譜儀的主流，應(yīng)用掃頻測(cè)量技術(shù)，通過掃頻信號(hào)源得到外差信號(hào)進(jìn)行頻域動(dòng)態(tài)分析。接收機(jī)是進(jìn)行ＥＭＣ測(cè)試的主要工具，以點(diǎn)頻法為基礎(chǔ)，應(yīng)用本振調(diào)諧的原理測(cè)試相應(yīng)...
